La storia dell'azienda e le pietre miliari nell'evoluzione delle apparecchiature
L’azienda ha le sue origini nel laboratorio per la lavorazione dei metalli fondato da Wilhelm Heidenhain a Berlino nel 1889: realizzava stampi, targhe, scale graduate. Dopo la distruzione subita durante la seconda guerra mondiale, il figlio del fondatore fonda a Traunreut la DR. JOHANNES HEIDENHAIN. I primi prodotti furono scale graduate per bilance di precisione. Successivamente fu avviata la produzione di sistemi di misura di posizione ottici per macchine utensili. All’inizio degli anni '60 si completò il passaggio a sistemi di misura lineari e angolari a scansione fotoelettrica. Questa evoluzione favorì l’automazione di molte macchine e impianti nell’industria manifatturiera.
Dalla metà degli anni '70, HEIDENHAIN si è affermata in misura crescente come importante costruttore di tecnologia per controlli numerici e azionamenti per le macchine utensili.
Dagli albori l’azienda ha espresso un orientamento fortemente tecnico. Per questo e per assicurare l’autonomia dell’azienda come presupposto per il suo sviluppo continuo, nel 1970 il Dr. Johannes Heidenhain ha affidato le quote della sua azienda a una fondazione. Tutto questo consente ad HEIDENHAIN di operare sensibili investimenti in ambito di Ricerca & Sviluppo.
Pietre miliari
1889 | W. HEIDENHAIN fonda a Berlino un laboratorio per l'incisione dei metalli |
1923 | Il Dr. Johannes Heidenhain entra a far parte dell'azienda paterna |
1948 | La società DR. JOHANNES HEIDENHAIN viene rifondata a Traunreut |
1950 | Invenzione del processo DIADUR: produzione di graduazioni di precisione altamente resistenti su vetro mediante copia di una graduazione originale |
1970 | Viene istituita la fondazione di utilità sociale "DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH" |
1980 | Morte del Dr. Johannes Heidenhain |
2014 | HEIDENHAIN è rappresentata a livello mondiale in tutti i Paesi industrializzati |
Progetti metrologici
| 1961 | Microscopio di misura fotoelettrico |
| 1966 | Comparatore interferenziale per il Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB |
| 1971 | Tavola di misura angolare e dispositivo di prova per dischi graduati per il PTB |
| 1977 | Goniometro di precisione per il PTB |
| 1989 | Sistemi di misura angolari per il New Technology Telescope NTT |
| 1999 | Sistemi di misura angolari per il Very Large Telescope VLT |
| 1999 | Righe graduate per il confronto di misura lineare internazionale NANO 3 tra numerosi istituti metrologici nazionali |
| 2001 | Comparatore interferenziale nanometrico per il PTB |
| 2003 | Confronto di misura angolare tra HEIDENHAIN, PTB e AIST (istituto di ricerca statale giapponese) |
| 2004 | Confronto di misura lineare tra HEIDENHAIN, PTB e MITUTOYO |
| 2004 | Sistemi di misura angolari per il telescopio GRANTECAN (Gran Telescopio CANARIAS) |
| 2005 | Confronto di misura angolare tra HEIDENHAIN e PTB |
| 2007 | Sistemi di misura angolari per le 25 antenne ALMA europee (Atacama Large Telescope Array) |
| 2013 | Sistemi di misura angolari per il Daniel K. Inouye Solar Telescope (DKIST, ex Advanced Technology Solar Telescope, ATST) |
Pietre miliari delle graduazioni
1936 | Supporto di misura copiato con procedimento fotomeccanico con accuratezza ± 0,015 mm |
1943 | Graduazione circolare copiata con accuratezza ± 3 secondi |
1952 | Graduazioni per bilance come core business |
1967 | Reticolo autosupportante, microstrutture |
1985 | Indici di riferimento a distanza codificata per graduazioni incrementali |
1986 | Supporti di misura a reticolo di fase |
1995 | Reticoli a croce piani per sistemi di misura a 2 coordinate |
2002 | Strutture piane a reticolo di fase per sistemi di misura lineari interferenziali |
2005 | Reticolo di ampiezza insensibile alla contaminazione e realizzabile mediante ablazione laser |
2009 | Reticoli a croce di grandi dimensioni (400 mm x 400 mm) per sistemi di misura destinati all'industria dei semiconduttori |
Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura lineari aperti
1952 | Sistemi di misura lineari ottici per macchine utensili |
1961 | Sistema di misura lineare incrementale LID 1, passo di divisione 8 µm / passo di misura 2 µm |
1963 | Sistema di misura lineare assoluto LIC con 18 tracce, codice binario puro / passo di misura 5 µm |
1965 | Interferometro laser per la calibrazione di macchine utensili |
1987 | Sistema di misura lineare interferenziale aperto LIP 101, passo di misura 0,02 µm |
1989 | Sistema di misura lineare interferenziale aperto LIP 301, passo di misura 1 µm |
1992 | Sistema di misura lineare interferenziale a due coordinate PP 109R |
2008 | Sistema di misura lineare interferenziale LIP 200 con periodo del segnale 0,512 µm, per velocità di traslazione fino a 3 m/s |
2010 | Sistema di misura lineare assoluto aperto LIC 4000 con 2 tracce, |
2012 | Sistema di misura lineare a una traccia assoluto LIC 2100 |
| 2015 | Sistema di misura lineare interferenziale LIP 6000 estremamente compatto |
Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura lineari incapsulati
1952 | Sistemi di misura lineari ottici per macchine utensili |
1966 | Sistema di misura lineare incrementale incapsulato LIDA 55.6 con nastro graduato in acciaio |
1975 | Sistema di misura lineare incrementale LS 500 con riga graduata in vetro, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 10 µm |
1977 | Sistema di misura lineare incrementale LIDA 300, corsa utile fino a 30 m |
1994 | Sistema di misura lineare assoluto LC 181 con 7 tracce, interfaccia EnDat, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 0,1 µm |
1996 | Sistema di misura lineare assoluto LC 481 con 2 tracce, PRC, EnDat, corsa utile fino a 2 m |
2011 | Sistema di misura lineare assoluto LC 200, corsa utile fino a 28 m, PRC, passo di misura 10 nm |
2014 | Sistema di misura lineare assoluto LC xx5, corsa utile fino a 4 m, passo di misura 1 nm |
| 2015 | Sistema di misura lineare incrementale LP 100, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 31,25 pm |
Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura angolari
1952 | Sistemi di misura angolari ottici |
1957/1961 | Sistema di misura angolare fotoelettrico ROD 1 con 40.000 periodi del segnale/giro, 10.000 divisioni |
1962 | ROD 1 con 72.000 periodi del segnale/giro |
1964 | Sistema di misura angolare assoluto ROC 15 / risoluzione 17 bit |
1975 | Sistema di misura angolare incrementale ROD 800, accuratezza ± 1 secondo |
1986 | Sistema di misura angolare incrementale RON 905, accuratezza ± 0,2 secondi |
1997 | Sistema di misura angolare assoluto con giunto integrato lato statore in esecuzione con albero cavo RCN 723, 23 bit monogiro, interfaccia EnDat, accuratezza ± 2 secondi |
2000 | Sistema di misura angolare interferenziale ERP 880 con 180.000 periodi del segnale/giro, accuratezza ± 0,2 secondi |
2004 | Sistema di misura angolare assoluto RCN 727 con albero cavo del diametro fino a 100 mm |
2009 | Sistema di misura angolare interferenziale ROP 8080, per wafer prober, combinazione supporto portante e sistema di misura angolare, 360.000 periodi del segnale/giro |
2011 | Sistema di misura angolare interferenziale miniaturizzato ERP 1080 in esecuzione single-chip encoder |
Pietre miliari dei sistemi di misura: trasduttori rotativi
1957/1961 | Trasduttore rotativo fotoelettrico incrementale ROD 1 con 10.000 divisioni |
| 1964 | Trasduttori rotativi standard incrementali delle serie ROD 2 / ROD 4 |
1981 | Trasduttore rotativo incrementale ROD 426, lo standard industriale |
1987 | Trasduttore rotativo multigiro assoluto ROC 221 S, 12 bit monogiro, 9 bit multigiro |
1992 | Trasduttori rotativi modulari incrementali ERN 1300 per temperature di lavoro fino a 120 °C |
1993 | Trasduttori rotativi assoluti monogiro e multigiro ECN 1300 e EQN 1300 |
2000 | Trasduttore rotativo assoluto miniaturizzato multigiro EQN 1100 con tecnologia "chip-on-board" |
2000 | Trasduttore rotativo assoluto monogiro ECN 100 con albero cavo del diametro fino a 50 mm |
2004 | Trasduttori rotativi assoluti miniaturizzati monogiro e multigiro ECI 1100 e EQI 1100 (con scansione induttiva) |
2007 | Trasduttori rotativi assoluti con "Functional Safety" SIL2/PL d e interfaccia EnDat 2.2 |
| 2012 | ERN 1387 con scansione incrementale di maggiore accuratezza grazie ad ASIC di scansione di nuova concezione |
| 2014 | Trasduttori rotativi assoluti per applicazioni fino a SIL3/PL e, interfaccia EnDat 2.2 e fault exclusion |
Pietre miliari nel settore dei controlli numerici e dell'elettronica
1968 | Visualizzatore bidirezionale VRZ 59.4 a 1 asse |
1974 | Visualizzatore di quote HEIDENHAIN 5041 |
1976 | Visualizzatori di quote TNC 110 e TNC 120 a 3 assi |
1979 | Controlli numerici parassiali TNC 131 / TNC 135 |
1981 | Controllo numerico continuo a 3 assi TNC 145 |
1984 | Controllo numerico continuo a 4 assi TNC 155 con simulazione grafica della lavorazione del pezzo |
1995 | Interfaccia sincrona-seriale EnDat per encoder di posizione assoluti |
1996 | Controllo numerico continuo TNC 426 con regolazione digitale per 5 assi |
1996 | Pacchetto completo HEIDENHAIN TNC 410 MA con inverter e motori |
2004 | Controllo numerico continuo iTNC 530 con modo operativo alternativo smarT.NC |
2007 | Controllo numerico continuo TNC 620 con HSCI, l'interfaccia di controllo seriale |
2011 | Controllo numerico continuo TNC 640 per lavorazione di fresatura/tornitura combinata |