Sistema di misura lineare assoluto per applicazioni in vu

Sistema di misura lineare assoluto per l'impiego in vuoto

Per assi lineari con elevata velocità di traslazione
Versione con passo di misura ridotto (<1 nm)
Interfacce: EnDat, Fanuc, Mitsubishi, Panasonic e Yaskawa
PCB, adesivi e vernici idonei per vuoto riducono il degassaggio
Cavità ventilate riducono i tempi di pompaggio
La resistenza termica consente elevate temperature di riscaldamento
Nessun materiale ferromagnetico per un'elevata sicurezza di processo
Trattamento termico prima del confezionamento garantisce massima pulizia

Appositamente per alto vuoto

La tecnologia del vuoto gioca un ruolo fondamentale in molti processi di ricerca e produzione all'avanguardia, divenuti indispensabili nei settori di produzione di elettronica, tecnologia a film sottile, sviluppo di nuovi materiali, biotecnologia, sistemi medicali e attrezzature di laboratorio.

Elevata velocità di traslazione

I sistemi di misura lineari LIC consentono movimenti di traslazione molto rapidi nonostante l'elevata accuratezza. Con passi di misura di appena 1 nm sono possibili velocità fino a 600 m/min. I valori di posizione vengono rilevati in modo assoluto e con particolare sicurezza grazie all'elevata insensibilità alla contaminazione.

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Video per il montaggio – LIC 4003 con staffe di serraggio

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Scheda tecnica – LIC 4100 V (alto vuoto)

Catalogo – Sistemi di misura lineari aperti

Catalogo – Cavi e connettori

Catalogo – Interfacce

Versioni prodotto

I sistemi di misura lineari aperti sono costituiti da un supporto di misura e una testina di scansione.Nelle liste sottostanti, selezionate i due componenti da abbinare. Potete richiedere una consulenza contattando il nostro Ufficio commerciale via telefono o mail oppure compilando il nostro modulo di contatto.

Testine di scansione

Supporto di misura

Testina di scansione

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Serie LIC 4100 V