Pietre miliari nel settore dei controlli numerici e dell'elettronica

1968

Visualizzatore bidirezionale VRZ 59.4 a 1 asse

1974

Visualizzatore di quote HEIDENHAIN 5041

1976

Visualizzatori di quote TNC 110 e TNC 120 a 3 assi

1979

Controlli numerici parassiali TNC 131 / TNC 135

1981

Controllo numerico continuo a 3 assi TNC 145

1984

Controllo numerico continuo a 4 assi TNC 155 con simulazione grafica della lavorazione del pezzo

1995

Interfaccia sincrona-seriale EnDat per encoder di posizione assoluti

1996

Controllo numerico continuo TNC 426 con regolazione digitale per 5 assi

1996

Pacchetto completo HEIDENHAIN TNC 410 MA con inverter e motori

2004

Controllo numerico continuo iTNC 530 con modo operativo alternativo smarT.NC

2007

Controllo numerico continuo TNC 620 con HSCI, l'interfaccia di controllo seriale

2011

Controllo numerico continuo TNC 640 per lavorazione di fresatura/tornitura combinata

La storia dell'azienda e le pietre miliari nell'evoluzione delle apparecchiature

L’azienda ha le sue origini nel laboratorio per la lavorazione dei metalli fondato da Wilhelm Heidenhain a Berlino nel 1889: realizzava stampi, targhe, scale graduate. Dopo la distruzione subita durante la seconda guerra mondiale, il figlio del fondatore fonda a Traunreut la DR. JOHANNES HEIDENHAIN. I primi prodotti furono scale graduate per bilance di precisione. Successivamente fu avviata la produzione di sistemi di misura di posizione ottici per macchine utensili. All’inizio degli anni '60 si completò il passaggio a sistemi di misura lineari e angolari a scansione fotoelettrica. Questa evoluzione favorì l’automazione di molte macchine e impianti nell’industria manifatturiera.

Dalla metà degli anni '70, HEIDENHAIN si è affermata in misura crescente come importante costruttore di tecnologia per controlli numerici e azionamenti per le macchine utensili.

Dagli albori l’azienda ha espresso un orientamento fortemente tecnico. Per questo e per assicurare l’autonomia dell’azienda come presupposto per il suo sviluppo continuo, nel 1970 il Dr. Johannes Heidenhain ha affidato le quote della sua azienda a una fondazione. Tutto questo consente ad HEIDENHAIN di operare sensibili investimenti in ambito di Ricerca & Sviluppo.

Pietre miliari

1889

W. HEIDENHAIN fonda a Berlino un laboratorio per l'incisione dei metalli

1923

Il Dr. Johannes Heidenhain entra a far parte dell'azienda paterna

1948

La società DR. JOHANNES HEIDENHAIN viene rifondata a Traunreut

1950

Invenzione del processo DIADUR: produzione di graduazioni di precisione altamente resistenti su vetro mediante copia di una graduazione originale

1970

Viene istituita la fondazione di utilità sociale "DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH"

1980

Morte del Dr. Johannes Heidenhain

2014

HEIDENHAIN è rappresentata a livello mondiale in tutti i Paesi industrializzati

Progetti metrologici

1961Microscopio di misura fotoelettrico
1966Comparatore interferenziale per il Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB
1971Tavola di misura angolare e dispositivo di prova per dischi graduati per il PTB
1977Goniometro di precisione per il PTB
1989Sistemi di misura angolari per il New Technology Telescope NTT
1999Sistemi di misura angolari per il Very Large Telescope VLT
1999Righe graduate per il confronto di misura lineare internazionale NANO 3
tra numerosi istituti metrologici nazionali
2001Comparatore interferenziale nanometrico per il PTB
2003Confronto di misura angolare tra HEIDENHAIN, PTB e AIST (istituto di ricerca statale giapponese)
2004Confronto di misura lineare tra HEIDENHAIN, PTB e MITUTOYO
2004Sistemi di misura angolari per il telescopio GRANTECAN (Gran Telescopio CANARIAS)
2005Confronto di misura angolare tra HEIDENHAIN e PTB
2007Sistemi di misura angolari per le 25 antenne ALMA europee (Atacama Large Telescope Array)
2013

Sistemi di misura angolari per il Daniel K. Inouye Solar Telescope (DKIST, ex Advanced Technology Solar Telescope, ATST)

Pietre miliari delle graduazioni

1936

Supporto di misura copiato con procedimento fotomeccanico con accuratezza ± 0,015 mm

1943

Graduazione circolare copiata con accuratezza ± 3 secondi

1952

Graduazioni per bilance come core business

1967

Reticolo autosupportante, microstrutture

1985

Indici di riferimento a distanza codificata per graduazioni incrementali

1986

Supporti di misura a reticolo di fase

1995

Reticoli a croce piani per sistemi di misura a 2 coordinate

2002

Strutture piane a reticolo di fase per sistemi di misura lineari interferenziali

2005

Reticolo di ampiezza insensibile alla contaminazione e realizzabile mediante ablazione laser

2009

Reticoli a croce di grandi dimensioni (400 mm x 400 mm) per sistemi di misura destinati all'industria dei semiconduttori

Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura lineari aperti

1952

Sistemi di misura lineari ottici per macchine utensili

1961

Sistema di misura lineare incrementale LID 1, passo di divisione 8 µm / passo di misura 2 µm

1963

Sistema di misura lineare assoluto LIC con 18 tracce, codice binario puro / passo di misura 5 µm

1965

Interferometro laser per la calibrazione di macchine utensili

1987

Sistema di misura lineare interferenziale aperto LIP 101, passo di misura 0,02 µm

1989

Sistema di misura lineare interferenziale aperto LIP 301, passo di misura 1 µm

1992

Sistema di misura lineare interferenziale a due coordinate PP 109R

2008

Sistema di misura lineare interferenziale LIP 200 con periodo del segnale 0,512 µm, per velocità di traslazione fino a 3 m/s

2010

Sistema di misura lineare assoluto aperto LIC 4000 con 2 tracce,
PRC, EnDat 2.2 per corse utili fino a 27 m e risoluzione 1 nm

2012

Sistema di misura lineare a una traccia assoluto LIC 2100

2015Sistema di misura lineare interferenziale LIP 6000 estremamente compatto

Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura lineari incapsulati

1952

Sistemi di misura lineari ottici per macchine utensili

1966

Sistema di misura lineare incrementale incapsulato LIDA 55.6 con nastro graduato in acciaio

1975

Sistema di misura lineare incrementale LS 500 con riga graduata in vetro, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 10 µm

1977

Sistema di misura lineare incrementale LIDA 300, corsa utile fino a 30 m

1994

Sistema di misura lineare assoluto LC 181 con 7 tracce, interfaccia EnDat, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 0,1 µm

1996

Sistema di misura lineare assoluto LC 481 con 2 tracce, PRC, EnDat, corsa utile fino a 2 m

2011

Sistema di misura lineare assoluto LC 200, corsa utile fino a 28 m, PRC, passo di misura 10 nm

2014

Sistema di misura lineare assoluto LC xx5, corsa utile fino a 4 m, passo di misura 1 nm

2015Sistema di misura lineare incrementale LP 100, corsa utile fino a 3 m, passo di misura 32,5 pm

Pietre miliari dei sistemi di misura: sistemi di misura angolari

1952

Sistemi di misura angolari ottici

1957/1961

Sistema di misura angolare fotoelettrico ROD 1 con 40.000 periodi del segnale/giro, 10.000 divisioni

1962

ROD 1 con 72.000 periodi del segnale/giro

1964

Sistema di misura angolare assoluto ROC 15 / risoluzione 17 bit

1975

Sistema di misura angolare incrementale ROD 800, accuratezza ± 1 secondo

1986

Sistema di misura angolare incrementale RON 905, accuratezza ± 0,2 secondi

1997

Sistema di misura angolare assoluto con giunto integrato lato statore in esecuzione con albero cavo RCN 723, 23 bit monogiro, interfaccia EnDat, accuratezza ± 2 secondi

2000

Sistema di misura angolare interferenziale ERP 880 con 180.000 periodi del segnale/giro, accuratezza ± 0,2 secondi

2004

Sistema di misura angolare assoluto RCN 727 con albero cavo del diametro fino a 100 mm

2009

Sistema di misura angolare interferenziale ROP 8080, per wafer prober, combinazione supporto portante e sistema di misura angolare, 360.000 periodi del segnale/giro

2011

Sistema di misura angolare interferenziale miniaturizzato ERP 1080 in esecuzione single-chip encoder

Pietre miliari dei sistemi di misura: trasduttori rotativi

1957/1961

Trasduttore rotativo fotoelettrico incrementale ROD 1 con 10.000 divisioni

1964Trasduttori rotativi standard incrementali delle serie ROD 2 / ROD 4

1981

Trasduttore rotativo incrementale ROD 426, lo standard industriale

1987

Trasduttore rotativo multigiro assoluto ROC 221 S, 12 bit monogiro, 9 bit multigiro

1992

Trasduttori rotativi modulari incrementali ERN 1300 per temperature di lavoro fino a 120 °C

1993

Trasduttori rotativi assoluti monogiro e multigiro ECN 1300 e EQN 1300

2000

Trasduttore rotativo assoluto miniaturizzato multigiro EQN 1100 con tecnologia "chip-on-board"

2000

Trasduttore rotativo assoluto monogiro ECN 100 con albero cavo del diametro fino a 50 mm

2004

Trasduttori rotativi assoluti miniaturizzati monogiro e multigiro ECI 1100 e EQI 1100 (con scansione induttiva)

2007

Trasduttori rotativi assoluti con "Functional Safety" SIL2/PL d e interfaccia EnDat 2.2

2012ERN 1387 con scansione incrementale di maggiore accuratezza grazie ad ASIC di scansione di nuova concezione
2014Trasduttori rotativi assoluti per applicazioni fino a SIL3/PL e, interfaccia EnDat 2.2 e fault exclusion